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 头戴耳机开关寿命试验机

产品详情

耳机轻触开关寿命试验机 XM-5600IV-II

一、用途：

本机台适用于电话机、计算器按键寿命耐久试验检测。可靠性高，降低客户的人力资源，提高产品的质量，本设备深受广大客户的好评。

产品图片

测试设备的参数如下：

测试工位：4个，每工位1个测试头

每个工位可设定1、2、3循环,或同时按压

每个按压气缸抬起、下压间隔时间可独立设定

高度调整：手动调节高度

循环次数：1-99999次

测试速度范围：0～150次/min

测试头最小动作间隔：0.2S

测试荷重：150-1500g，通过气压调节

控制方式：PLC+触摸屏

气源：≥0.5Mpa

电源：AC 220V

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